面積法晶粒度
Linkam顯微鏡熱臺
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
圖譜對照
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
層厚度測量
DSX1000數(shù)碼顯微鏡
焊接
清潔度分析系統(tǒng)CIX100
DP22
輔助聚焦裝置
偏光顯微鏡BX53P
光源以及配件
簡易型BXFM
奧林巴斯清潔度分析系統(tǒng)
孔隙率
普及型連續(xù)變倍SZ系列
STREAM軟件特點
鑄鐵
自動聚焦裝置
研究型連續(xù)變倍SZX系列
即時景深擴展（EFI）
DP74
汽車行業(yè)質(zhì)量控制
截點法晶粒度
夾雜物最惡劣視場法
PCB電鍍分布能力
Prior程序控制電動載物臺
Presi制樣設(shè)備
奧林巴斯測量顯微鏡
OLS5100激光共焦顯微鏡
奧林巴斯測量顯微鏡STM7
DP27
顆粒分析
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